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Institut des Matériaux de Paris Centre
IMPC - Fédération de Recherche 2482

Microscopie électronique

Le service commun de microscopie électronique de la Faculté de Chimie met à la disposition des chercheurs, étudiants et industriels ses Microscopes Electroniques à Transmissionet la compétence de ses ingénieurs pour lacaractérisation des matériaux aux échelles microscopique et nanométrique.

Il est possible d’étudier la morphologie, la structure cristalline à l'échelle atomique ainsi que la composition chimique locale à l'échelle nanométrique. Grâce à l’analyse par spectroscopie en dispersion d’énergie (EDS), les éléments présents dans l’échantillon vont pouvoir être déterminés. De plus, à l’aide du microscope JEOL 2010, la haute résolution est désormais à notre portée.En effet, la résolution locale de 1.8 angstrom de ce microscope permet procéder à une étude cristallographique locale (plans réticulaires, défauts cristallins…).

 

 

Le service commun de microscopie électronique permet également d’avoir accès à la Microscopie Electronique à Balayage. Cette technique permet d'obtenir des images de la surface des échantillons avec une résolution spatiale de l’ordre du nanomètre. Les détecteurs complémentaires rendent possible une analyse localisée de la composition élémentaire de la matière.

Types de matériaux étudiés : Nanomatériaux, catalyseurs, matériaux hybrides et polymères.

Le service dispose également d'un microtome UltraCut LEICA

Image et spectre analytique de nanotubes de BaMn8O16, formés par croissance épitaxiale sur du quartz alpha lui-même formé en surface d’un substrat de silicium.

Direct Monolithic Integration of Vertical Single Crystalline Octahedral Molecular Sieve Nanowires on Silicon

A. Carretero-Genevrier,  J. Oro-Sole, J. Gazquez, C.Mage, L. Miranda, T. Puig, X. Obradors, E. Ferain, C. Sanchez, J. Rodriguez-Carvajal and N. Mestres.

American Chemical Society (2013) <DOI: 10.1021/cm403064u>

 

FS (fernande.sarrazin @ upmc.fr) - 19/10/16

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