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Institut des Matériaux de Paris Centre
IMPC - Fédération de Recherche 2482

Microscopies Electroniques à Transmission

 Microscopies Electroniques à Transmission

JEM 100 CX - JEM 2011 - JEM 1011

Tension d'accélération : 100 KV

Résolution : 3 angstrom

Caméra CCD Soft Imaging System (Keenview Pro)

Logiciel Soft Imaging System (TEM)

Tension d'accélération : 200 KV

Résolution : 1.8 angstrom

Analyseur EDS (PGT)

Système de balayage du faisceau (STEM)

Caméra CCD Gatan (Orius)

Logiciel Gatan (Digital micrograph)

Tension d'accélération :

100 kV

Résolution : 3 angstrom

Caméra Gatan (Orius)

Logiciel DigitalMicrograph

Service de Microscopie Electronique

UPMC

Sandra Casale sandra.casale(at)upmc.fr

Patricia Beaunier patricia.beaunier(at)upmc.fr

 

MONARIS (UMR 8233)

UPMC

Bât F (CC 49)

Christophe Petit

christophe.petit(at)upmc.fr

 

Applications

FS (fernande.sarrazin @ upmc.fr) - 28/11/15

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Contact

Direction :

Xavier Carrier (xavier.carrier @ upmc.fr)

Secrétariat :

Nathalie FRANÇOIS (nathalie.francois @ upmc.fr)

Webmaster :

Fernande SARRAZIN (fernande.sarrazin @ upmc.fr)

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Formulaire de contact

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Administration et salles de réunion

UPMC - IMPC FR2 482

Tour 44/43

3ème étage

Pièces 315-317-320

4 place Jussieu

75252 Paris cedex 05

Tél : 01 44 27 54 60

Fax : 01 44 27 60 33

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  • 160 chercheurs et enseignants-chercheurs
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