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Les séminaires du LAMS

Séminaire du LAMS : lundi 6 mars 2017 à 14h00

De la biologie au patrimoine avec l’imagerie moléculaire par spectrométrie de masse

par Alain Brunelle, Institut de Chimie des Substances Naturelles, CNRS UPR2301, Univ. Paris-sud, Université Paris-Saclay, Gif-sur-Yvette, France

La spectrométrie de masse par temps de vol d’ions secondaires (TOF-SIMS) est une technique d’analyse très répandue pour l’étude des surfaces en science des matériaux. Le développement de sources d’ions polyatomiques a permis l’analyse de composés organiques à une échelle de moins d’un micron. Depuis peu des sources d’agrégats massifs d’argon permettent aussi une analyse en 3D des échantillons. Le TOF-SIMS est ainsi devenu une méthode de choix pour l’imagerie chimique par spectrométrie de masse à l’échelle micrométrique ou sub-micrométrique, complémentaire de la désorption-ionisation laser assistée par matrice (MALDI), plus répandue mais limitée à plusieurs microns. À côté de nombreuses applications où la localisation précise de lipides se révèle être un outil précieux dans les domaines biologiques et biomédicaux, le TOF-SIMS est aussi particulièrement utile pour l’analyse in situ de métabolites dans des échantillons végétaux, ou pour la détermination précise de la composition organique et minérale d’échantillons du patrimoine, comme des prélèvements de tableaux anciens.

Retrouvez les détails sur actualité du LAMS sur le site du laboratoire.

23/02/17

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